中国仪器仪表学会将于2007年12月在北京举办“X射线荧光光谱分析技术与应用”培训班，培训结束经考试合格，颁发中华人民共和国人事部监制的继续教育证书。

授课专家：邀请有实际应用经验的专家授课。

时间地点：2007年12月10日至13日（12月9日报到）　　北京

培训内容： 1、X射线荧光光谱分析基础；

2、X射线荧光光谱光谱仪分类、结构、性能及仪器维护维修；

3、X射线荧光光谱理论强度计算公式

4、X射线荧光光谱定量分析；

5、X射线荧光光谱分析基体校正；

6、X射线荧光光谱定性和半定量分析；

7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析；

8、X射线荧光光谱分析样品制备；

9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用；

10、X射线荧光光谱分析不确定度评定；

11、X射线荧光光谱玻璃熔融法分析样品的处理方法；

12、X射线荧光光谱分析轻元素的处理方法

13、X射线荧光光谱仪器及分析技术的最新进展；

14、讨论答疑。

培训费：每人900元（包括授课费、讲义、文具、证书费等），食宿统一安排，费用自理。

报名方式：有意参加培训者请于2007年12月3日前将《报名回执表》填写后，传真、E-mail或致电招生办公室。培训第一轮通知也可在中国仪器仪表学会官方网站上查看。

联系方式：

联系电话：010-68364250/ 010-82800721

传    真：010-68366340

联系人：赵鹏  刘继红  燕泽程

网    址：www.cis.org.cn

E-MAIL:info@fenxi168.com或x_training@163.com

（继续教育部）